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光學測量儀產(chǎn)品及廠家

AutoWafe Pro.美國SONIX 晶圓檢測設備

美國sonix 晶圓檢測設備 autowafe pro.為全自動晶圓檢測設計的機型，主要應用在bond wafer，mems 內(nèi)部空洞、離層檢測，tsv量測方面。

更新時間:2025-07-05

該公司產(chǎn)品分類：深圳市藍星宇電子科技有限公司

4200A-SCS美國泰克TEK Keithley半導體參數(shù)分析儀

美國泰克tek keithley半導體參數(shù)分析儀4200a-scs ，加快半導體設備、材料和工藝開發(fā)的探索、可靠性和故障分析研究。業(yè)內(nèi)領先性能參數(shù)分析儀，提供同步電流-電壓 (i-v)、電容-電壓 (c-v) 和超快脈沖 i-v 測量。

更新時間:2025-07-05

該公司產(chǎn)品分類：深圳市藍星宇電子科技有限公司

CoreAFM瑞士Nanosurf 原子力顯微鏡

瑞士nanosurf 原子力顯微鏡coreafm ，非常智能地聯(lián)合了原子力顯微鏡的核心部件來實現(xiàn)最多功能化與用戶方便使用性. 正是由于這種基礎的設計, coreafm非常合理的實現(xiàn)了最優(yōu)化的原子力顯微鏡的功能.

更新時間:2025-07-05

該公司產(chǎn)品分類：深圳市藍星宇電子科技有限公司

HMS3000，HMS5000韓國Ecopia霍爾效應測量系統(tǒng)

韓國ecopia霍爾效應測量系統(tǒng)hms3000，hms5000，用于研究半導體材料/光電材料的電學特性，可以測量材料在不同溫度、磁場下的載流子濃度、遷移率、電阻率、霍爾系數(shù)及載流子類型。

更新時間:2025-07-05

該公司產(chǎn)品分類：深圳市藍星宇電子科技有限公司

H5000美國 MMR 霍爾效應測量系統(tǒng)

美國 mmr 霍爾效應測量系統(tǒng) h5000，用于研究光電材料的電學特性，利用范德堡測量技術測量材料在不同溫度、磁場下的載流子濃度、遷移率、電阻率、霍爾系數(shù)及載流子類型。整套系統(tǒng)主要包括控制器、樣品室、磁場三部分。

更新時間:2025-07-05

該公司產(chǎn)品分類：深圳市藍星宇電子科技有限公司

KUP007，EMP100C，EMP100B，EMP50S半導體測試探針臺

半導體測試探針臺kup007，emp100c，emp100b，emp50s

更新時間:2025-07-05

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SCALA德國Mecwins 掃描式激光分析儀

德國mecwins 掃描式激光分析儀scala，它是用激光入射掃描樣品表面，收集反射信號得到樣品表面的三維形貌和特征。

更新時間:2025-07-05

該公司產(chǎn)品分類：深圳市藍星宇電子科技有限公司

FTPadv臺式薄膜探針反射儀

ftpadv 臺式薄膜探針反射儀臺式薄膜探針反射儀ftpadv，ftpadv是一種具有成本效益的臺式反射膜厚儀解決方案，它具有非常快速的厚度測量。在100毫秒以內(nèi)進行測量，其精度低于0.3nm，膜厚范圍在50 nm -25 μm。為了便于分光反射測量操作，該儀器包括了范圍廣泛的預定配方。

更新時間:2025-07-05

該公司產(chǎn)品分類：深圳市藍星宇電子科技有限公司

FTPadv Expert綜合薄膜測量軟件

ftpadv expert 綜合薄膜測量軟件，光譜反射測量軟件ftpadv expert是專門為測量和分析r(λ)和t(λ)而設計的。用于確定各種材料的薄膜厚度、消光系數(shù)或折射率的光譜數(shù)據(jù)分析，這些參數(shù)都被加載到sentech光譜反射測量軟件中，使得能夠根據(jù)cauchy色散、drude振蕩給出的參數(shù)描述和擬合材料。

更新時間:2025-07-05

該公司產(chǎn)品分類：深圳市藍星宇電子科技有限公司

MDPinline光伏測量儀器

mdpinline 光伏測量儀器，一秒內(nèi)完成正片晶片掃描。mdpinline是為高速自動掃描硅晶片而設計的，它以每片不到一秒的時間記錄少子壽命的全部形貌。利用微波檢測光電導率定量測量少子壽命。憑借其緊湊的設計，mdpinline可以靈活地集成在傳送帶上或晶片分選系統(tǒng)中。

更新時間:2025-07-05

該公司產(chǎn)品分類：深圳市藍星宇電子科技有限公司

MDPinline ingot光伏測量儀器

mdpinline ingot 光伏測量儀器，多晶形貌少子壽命測量系統(tǒng)是為高產(chǎn)量生產(chǎn)用戶而設計的。對于一個面，以1毫米的分辨率，無接觸、無破壞地測量電阻率和少子壽命花費不到一分鐘。電阻率和導電類型變化的自動掃描可用于質(zhì)量控制和監(jiān)測爐子性能。面可以自動轉動，以便測量所有的四個側面。

更新時間:2025-07-05

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MDPinlinescan在線壽命和電阻率逐行掃描儀

更新時間:2025-07-05

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MDPpro德國Sentech激動掃描系統(tǒng)

德國sentech激動掃描系統(tǒng)mdppro,少子壽命測量儀器的特征在于以1mm分辨率對500mm的一個面在不到4分鐘內(nèi)完成掃描。電阻率和少子壽命的測量完全無觸摸。利用微波檢測光電導率(mdp)同時測量少子壽命、光電導率、電阻率和p/n導電類型的變化。

更新時間:2025-07-05

該公司產(chǎn)品分類：深圳市藍星宇電子科技有限公司

SenSol自動掃描薄膜測量儀器

sensol是sentech光伏產(chǎn)品組合中的自動大面積掃描儀器。自動表征膜厚、薄層電阻、霧度、反射和透射的均勻性。使用sensol，可以監(jiān)測大型玻璃基板上的沉積過程的均勻性，從而可以顯著減少儀器維護后重新開始生產(chǎn)的時間。

更新時間:2025-07-05

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SENperc PV德國Sentech光伏測量儀

senperc pv 是perc電池制造質(zhì)量控制的創(chuàng)新解決方案。senperc pv 測量al2o3/sinx堆疊層和用于鈍化perc電池的單層膜。監(jiān)測沉積過程的穩(wěn)定性。由此，可以優(yōu)化維護時間間隔。

更新時間:2025-07-05

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MDPspot德國Sentech光伏測量儀器

德國sentech光伏測量儀器mdpspot，具有成本效益的臺式少子壽命測試儀mdpspot可用于表征晶片或面。它為少子壽命測量提供了一個測量點。低成本桌面式壽命測量系統(tǒng)，用于手動操作表征不同制備階段的各種不同硅樣品�？蛇x的手動操作z軸用于厚度多達156毫米的樣品。標準軟件可輸出可視化的測量結果。

更新時間:2025-07-05

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RT Inline薄膜反射和透射的在線監(jiān)測系統(tǒng)

薄膜反射和透射的在線監(jiān)測系統(tǒng) rt inline 反射率、透射率和膜厚的高速在線測量是rt inline的設計特點。傳感器頭陣列掃描薄膜在大型玻璃基板上的反射和/或透射，作為內(nèi)部參考測量。利用ftpadv expert軟件可以方便地進行層沉積過程的在線監(jiān)測。軟件接口可用于與主機的數(shù)據(jù)通信。

更新時間:2025-07-05

該公司產(chǎn)品分類：深圳市藍星宇電子科技有限公司

RTMALD實時監(jiān)測儀

sentech ald實時監(jiān)測儀是一種新型的光學診斷工具，是心靈超高分辨率的單一ald循環(huán)。在不破壞真空的條件下分析薄膜特性(生長速率，厚度，折射率)，在短時間內(nèi)開發(fā)新工藝、實時研究ald循環(huán)中的反應機理是sentech ald實時監(jiān)測儀的主要應用。

更新時間:2025-07-05

該公司產(chǎn)品分類：深圳市藍星宇電子科技有限公司

NS550A眼鏡鏡片光學透過率儀

ns550a眼鏡鏡片光學透過率儀的測試原理是采用紫外光源，紅外光源和可見光源照射被測透明物質(zhì)，感應器分別探測三種光源的入射光強和透過被測透明物質(zhì)后的光強，透過光強與入射光強的比值即為透過率，用百分數(shù)表示。

更新時間:2025-07-05

該公司產(chǎn)品分類：深圳市納森科技有限公司

NS365多波段透過率測試儀

ns365多波段透過率測試儀的測試原理是采用紫外光源，紅外光源和可見光源照射被測透明物質(zhì)，感應器分別探測三種光源的入射光強和透過被測透明物質(zhì)后的光強，透過光強與入射光強的比值即為透過率，用百分數(shù)表示

更新時間:2025-07-05

該公司產(chǎn)品分類：深圳市納森科技有限公司

NS500中空玻璃測厚儀

ns500中空玻璃測厚儀專用于測量單層玻璃，夾層玻璃（中空玻璃）和柱型玻璃管等的厚度。尤其適用于普通刻度尺或卡尺不能或不易操作的測量場合，如玻璃瓶壁厚和建筑夾層玻璃窗厚度的測量。對于中空玻璃厚度的測量，同時測得各層玻璃及中間空氣層的厚度。

更新時間:2025-07-05

該公司產(chǎn)品分類：深圳市納森科技有限公司

NS550A臺式透光率儀

ns550a臺式透光率儀測試原理是采用紫外光源，紅外光源和可見光源照射被測透明物質(zhì)，感應器分別探測三種光源的入射光強和透過被測透明物質(zhì)后的光強，透過光強與入射光強的比值即為透過率，用百分數(shù)表示。

更新時間:2025-07-05

該公司產(chǎn)品分類：深圳市納森科技有限公司

NS12高精度透過率測試儀

ns12高精度透過率測試儀的測試原理是采用紫外光源，紅外光源和可見光源照射被測透明物質(zhì)，感應器分別探測三種光源的入射光強和透過被測透明物質(zhì)后的光強，透過光強與入射光強的比值即為透過率，用百分數(shù)表示。

更新時間:2025-07-05

該公司產(chǎn)品分類：深圳市納森科技有限公司

NS10A防爆膜測試儀

ns10a防爆膜測試儀的測試原理是采用紫外光源，紅外光源和可見光源照射被測透明物質(zhì)，感應器分別探測三種光源的入射光強和透過被測透明物質(zhì)后的光強，透過光強與入射光強的比值即為透過率，用百分數(shù)表示。

更新時間:2025-07-05

該公司產(chǎn)品分類：深圳市納森科技有限公司

NS13A光學透過率測量儀

ns13a光學透過率測量儀的測試原理是采用紫外光源，紅外光源和可見光源照射被測透明物質(zhì)，感應器分別探測三種光源的入射光強和透過被測透明物質(zhì)后的光強，透過光強與入射光強的比值即為透過率，用百分數(shù)表示。

更新時間:2025-07-05

該公司產(chǎn)品分類：深圳市納森科技有限公司

NS550IR油墨透光率儀

ns550ir油墨透光率儀的測試原理是采用紅外850nm光源，紅外940nm光源和可見550nm光源照射被測透明物質(zhì)，感應器分別探測三種光源的入射光強和透過被測透明物質(zhì)后的光強，透過光強與入射光強的比值即為透過率,用百分數(shù)表示。

更新時間:2025-07-05

該公司產(chǎn)品分類：深圳市納森科技有限公司

NS11太陽膜透過率測試儀

ns11太陽膜透過率測試儀的測試原理是采用紫外光源，可見光源和紅外光源照射被測透明物質(zhì)，感應器分別三種光源的入射光強和透過被測透明物質(zhì)后的光強，透過光強與入射光強的比值即為透過率，用百分數(shù)表示。

更新時間:2025-07-05

該公司產(chǎn)品分類：深圳市納森科技有限公司

NS530A汽車前擋玻璃透光率儀

ns530a汽車前擋玻璃透光率儀具有的三個獨立測試單元分別為紫外，紅外，和可見光，顯示值為紅外透過率值，紫外透過率值和可見光透過率值。

更新時間:2025-07-05

該公司產(chǎn)品分類：深圳市納森科技有限公司

NS101汽車太陽膜透光率測試儀高精度防爆膜測試儀建筑膜檢測儀器

ns101汽車太陽膜透光率測試儀高精度防爆膜測試儀建筑膜檢測儀器的測試原理是采用紫外光源,可見光源和紅外光源照射被測透明物質(zhì),感應器分別探測三種光源的入射光強和透過被測透明物質(zhì)后的光強,透過光強與入射光強的比值即為透過率,用百分數(shù)表示。大多數(shù)的太陽膜,可見光標注透過率指標,紅外線和紫外線標注阻隔率指標,阻隔率=100%-透過率。ns101直接測量和顯示紫外線的阻隔率,紅外線的阻隔率和可見光透過率,

更新時間:2025-07-05

該公司產(chǎn)品分類：深圳市納森科技有限公司

NS530A汽車前檔貼膜透光率測試儀

ns530a汽車前檔貼膜透光率測試儀具有三個獨立測試單元分別為紫外，紅外，和可見光，顯示值為紅外透過率值，紫外透過率值和可見光透過率值。

更新時間:2025-07-05

該公司產(chǎn)品分類：深圳市納森科技有限公司

NS13A卡式便攜式透光率儀

ns13a卡式便攜式透光率儀，透光率測試儀，透光率檢測儀，透光率計，透過率測試儀，玻璃透光率儀，鏡片透光率測試儀，眼鏡片透光率儀，透明材料透光率儀，涂料透光率儀，太陽鏡片透光率測試儀

更新時間:2025-07-05

該公司產(chǎn)品分類：深圳市納森科技有限公司

NS550H臺式光學透過率測試儀

ns550h臺式光學透過率測試儀測試原理是采用紫外光源，紅外光源和可見光源照射被測透明物質(zhì)，感應器分別探測三種光源的入射光強和透過被測透明物質(zhì)后的光強，透過光強與入射光強的比值即為透過率，用百分數(shù)表示。

更新時間:2025-07-05

該公司產(chǎn)品分類：深圳市納森科技有限公司

NS15A便攜式透光率儀

ns15a透光率儀是一款寬譜線可見光(380nm～760nm)測量儀，測試原理是采用三路完全相同的可見光源照射被測透明物質(zhì)，感應器分別探測三路光源的入射光強和透過被測透明物質(zhì)后的光強，透過光強與入射光強的比值即為透過率，用百分數(shù)表示。

更新時間:2025-07-05

該公司產(chǎn)品分類：深圳市納森科技有限公司

NS-500中空玻璃空氣層厚度測量儀

ns500中空玻璃空氣層厚度測量儀測試原理是利用光學反射原理，可在玻璃的單側表面測量玻璃厚度，尤其適用于通用測量工具如刻度尺或卡尺等不能或不易操作的測量場合，如玻璃瓶壁厚和建筑夾層玻璃（中空玻璃）窗厚度的測量。對于空氣夾層玻璃的測量，還可以同時獲得兩層玻璃及中間空氣層的厚度。

更新時間:2025-07-05

該公司產(chǎn)品分類：深圳市納森精密儀器有限公司

HS1000美國NANOVEA三維表面形貌儀

美國nanovea三維表面形貌儀hs1000型，是一款高速的三維形貌儀，最高掃描速度可達1m/s,采用國際領先的白光共聚焦技術，可實現(xiàn)對材料表面從納米到毫米量級的粗糙度測試，具有測量精度高，速度快，重復性好的優(yōu)點，該儀器可用于測量大尺寸樣品或質(zhì)檢現(xiàn)場使用。

更新時間:2025-07-05

該公司產(chǎn)品分類：深圳市藍星宇電子科技有限公司

Y.Cougar SMT， Y.Cheetah德國YXLON 高分辨率Ｘ射線檢測設備

德國 yxlon 高分辨率ｘ射線檢測設備 y.cougar smt 平板探測器（標配） y.cheetah 高速平板探測器（標配）

更新時間:2025-07-05

該公司產(chǎn)品分類：深圳市藍星宇電子科技有限公司

Die Pick & Place Systems美國Royec芯片拾取及放置系統(tǒng)

美國royec芯片拾取及放置系統(tǒng)die pick & place systems,new !! ap+ 全自動芯片分選系統(tǒng)

更新時間:2025-07-05

該公司產(chǎn)品分類：深圳市藍星宇電子科技有限公司

DE35-ST美國Royec半自動型芯片拾取系統(tǒng)

美國royec半自動型芯片拾取系統(tǒng)de35-st ,最小200微米芯片拾取,可選配背面，側面檢測,可選配芯片轉向功能.

更新時間:2025-07-05

該公司產(chǎn)品分類：深圳市藍星宇電子科技有限公司

MT Century Curve Tracer美國RTI自動特性圖示儀

美國rti自動特性圖示儀 mt century curve tracer，是一個性價比較高的曲線追蹤設備。最多到96個channel，提供4種型號可供客戶選擇，mt century curve tracer 與rti其他大型curve trace擁有一樣的可靠性，功率和軟件。像其他rti機型一樣，mt century系統(tǒng)的設計有與950系列的測試夾具及其它專用夾具連接的接口。

更新時間:2025-07-05

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3D Nanofinger德國Klocke Nanotech 3D納米級三維測量儀

德國klocke nanotech納米級三維測量儀3d nanofinger，是一種實用的納米精度坐標和形貌綜合測量設備。由臺架、控制系統(tǒng)、探頭、針尖組成. 可測量樣品外形尺寸，表面輪廓、粗糙度等，并可與超精密微加工、微組裝系統(tǒng)組合，進行在線檢測、質(zhì)量控制等。

更新時間:2025-07-05

該公司產(chǎn)品分類：深圳市藍星宇電子科技有限公司

SV-1A日本A&D粒子計數(shù)器（粒度計）

日本a&d粒子計數(shù)器（粒度計）sv-1a,是使用點監(jiān)測的低成本替代設備,計數(shù)值高達2,000,000個粒子/ft.

更新時間:2025-07-05

該公司產(chǎn)品分類：深圳市藍星宇電子科技有限公司

F20，F(xiàn)30，F(xiàn)40，F(xiàn)50，F(xiàn)60，F(xiàn)3-XXT美國Filmetrics 薄膜厚度測量系統(tǒng)

美國filmetrics 薄膜厚度測量系統(tǒng)f20，f30，f40，f50，f60，f3-xxt 系列，臺式薄膜厚度測量系統(tǒng)

更新時間:2025-07-05

該公司產(chǎn)品分類：深圳市藍星宇電子科技有限公司

ECHO-VS, ECHO Pro美國 SONIX 超聲波掃描顯微鏡

美國 sonix 超聲波掃描顯微鏡:echo-vs, echo pro™全自動超聲波掃瞄顯微鏡,sonix echo vs™ 是專為更高精度要求，更復雜元器件設計的新一代設備。echo pro™全自動超聲波掃瞄顯微鏡,編程自動判別缺陷,高產(chǎn)量,無需人員重復設置.

更新時間:2025-07-05

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FTIR德國Bruker傅氏轉換紅外光譜儀

德國bruker傅氏轉換紅外光譜儀ftir -利用紅外線光譜經(jīng)傅利葉轉換進而分析雜質(zhì)濃度的光譜分析儀器。

更新時間:2025-07-05

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Tango,MPA,Matrix-I德國Bruker FT-NIR光譜儀

德國bruker ft-nir光譜儀tango,mpa,matrix-i.ft-nir光譜儀已經(jīng)在包括制藥，食品，農(nóng)業(yè)和化學行業(yè)在內(nèi)的所有行業(yè)的質(zhì)量控制應用中得到了很好的應用。它為耗時的濕法化學方法和色譜技術提供了一種實用的替代方法。ft-nir無破壞性，不需要樣品制備或危險化學品，使其定量和定性分析快速可靠。

更新時間:2025-07-05

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