日立高新技術(shù)科學(xué)公司于2019年3月起,在中國開始銷售利用光干涉原理進行非接觸式無損傷三維表面形態(tài)測量的納米尺度3d光學(xué)干涉測量系統(tǒng)“vs1800”,該產(chǎn)品搭配有支持多目的表面測量國際標準“iso 25178*1參數(shù)對比工具”,通過簡單而準確的樣品測量支持客戶的分析業(yè)務(wù),與此同時,憑借不斷創(chuàng)新積累的三維測量性能,實現(xiàn)高精度、高分辨率的表面性狀的測量。
更新時間:2025-06-24